★★★EOS-1—EOS的含义与来源★★★
€2.ESD和Surge
静电产生在两个不同的带电体之间,当它们接触或者离开时发生的电离(大量电荷转移)现象就是静电放电,产生极快的瞬态脉冲电流。其特点是:持续时间短(高频,约1GHZ)、大电压(高电压至30KV)、短时间(ns级别)内能量大。我们极为熟悉的是冬天离开座椅的时候经常被电击,秋天晚上摩擦衣服可以看到电火花。静电会损害电子元器件,使系统失效,天线灵敏度变差或失灵,WiFi接收不到信号等等。
2.Surge
检测来自故障机的保护器件和方案设计,我们经常会发现:并接在入口端的Zener,ESD管,出现不同程度的损伤,或短路或漏电流变大。其浪涌产生的原因主要来自系统的上电和断电过程,大的程序运作过程中突然中断,和其他电力设备进行充电的过程中电力系统切断或抛负载等。对敏感电子元器件来说,浪涌电压击穿半导体器件,破坏元器件金属化表层,破坏PCB线路或接触点。破坏三端双可控硅元件/晶闸,锁死晶闸管或三端双向可控硅元件失控。对数据文件部分造成破坏,数据处理程序出错,接收、传输数据错误和失败。系统原因不明的故障,电子元器件提前老化,寿命缩短,设备可靠性降低。Surge的特点是瞬时脉冲电压大,瞬时脉冲电流大,持续时间较长,但传输频率低。
脉冲群可以理解为连续的脉冲冲击,可以自定义脉冲高度和宽度以及频率。脉冲群多数产生在电网中,在实际电网中,电感负载断开、继电器触点切换以及电机操作时在电路上产生瞬态脉冲群(EFT)干扰,它可以使受试设备的数字系统尤其是CPU系统完全陷入混乱,程序
€3.EOS的两种模型
1.ESD的模型
图1-1是ESD的电气模型图,从图可知静电释放的最尖峰脉冲持续时间非常短,但峰值电流Ipp很高,达到A级别。从图可知在峰值脉冲过后还有若干较为弱一些的脉冲产生,那么在ESD的防护中,我们主要瞄准最尖峰的脉冲,最尖峰的脉冲若可以被吸收或泄放,那么后续的弱脉冲也可以被处理掉。
2.Surge的模型
图1-2:浪涌的测试模型
波前时间:T3=1.25×T1,半峰值时间:T2=20us±20%
图1-2是Surge的电气模型图,从图中可知浪涌的正向和反向波形都比较平缓,峰值电流为mA级别,但是持续时间非常长,并且和ESD相比还具有反向浪涌,所以应对Surge都是以双向来作为基本防护策略。