为了测试其中的一些说法，我设计了一块 1.6 mm 厚的电路板，上面有几对 15 mm 长的导线，导线之间有 2 mm 的间隙。无论是电容耦合还是电感耦合，长而平行且靠近的线路都是最糟糕的情况。每根导线的两端都有一个引脚，如果存在地平面，就在导线引脚旁边放置一个地引脚，以保持返回路径尽可能接近：
其中一对没有地平面，另一对只有底层的一个简单的地平面，其余的地平面各有不同：
-
两个走线之间有分割的地平面。
-
两个走线穿过分割的地平面的分割处。
-
有地平面，走线跳转到底层。(一个平行，一个交叉）
-
两层都有地平面
-
两层都有地平面，导线旁有过孔。
-
两层都有地平面，带有屏蔽线
-
两层都有地平面，带有屏蔽线，且屏蔽线上和走线旁都有过孔。
我用 50 MHz 正弦波（10ns 上升/下降时间）进行了测试，这应该能代表典型的业余项目，但不适用于微波范围的测试(所使用的波长比走线大得多）。
电容耦合
实验目的：测量电容耦合
实验设备：
-
函数发生器（Function generator）：用于产生一个 5V 的 50MHz 正弦波信号。 - 示波器（Scope）：用于测量和显示信号。
实验步骤：
-
将函数发生器的输出连接到一根导线的一端。 -
将示波器的探头连接到另一条导线的另一端，用于测量信号。 -
在进行有地平面的测试时，移除了示波器探头的标准地线（ground lead），并使用一根短于2厘米的导线，将探头的地环（ground ring）连接到地平面上。 -
在没有地平面的测试中，直接将示波器的地夹（ground clip）夹到函数发生器的地线上。
| 配置 | 耦合电压峰峰值 |
| 无地平面，15cm示波器地线夹提供地 | 800 mV |
| 标准地平面 | 340 mV |
| 走线之间有分割的地平面 | 352 mV |
| 走线跨过分割的地平面 | 360 mV |
| 标准地平面，但有导线切割穿过地平面；且待测的信号线跨过切割的导线 | 351 mV |
| 标准地平面，但有导线切割穿过地平面；且待测的信号线平行靠近切割的导线 | 340 mV |
| 双面的地平面 | 294 mV |
| 双面的地平面+缝合孔（仅一侧） | 300 mV |
| 双面的地平面+屏蔽线 | 88 mV |
| 双面的地平面+屏蔽线+缝合孔 | 48 mV |
地平面对电容耦合的影响：
-
即使在最糟糕的布局中，接地平面也能将电容耦合降低 2 倍以上。这意味着地平面提供了一个低电感和低电阻的电流返回路径，并且能够减少不同走线之间的串扰和耦合。 -
通常建议在电源、数字和模拟部分之间分割地平面，但这样做实际上增加了耦合。 -
在双面接地的情况下，走线只有在两侧都有缝合孔的情况下耦合才会有所改善；如果在两个走线之间放置一个接地的屏蔽走线，效果会更好（比没有地平面好16倍以上）。
地平面下的短走线的影响：
-
在远小于波长的尺度上，地平面下的短走线影响相对较小。
-
我测量了从一个交叉走线耦合到主走线的信号为153毫伏，这个值并不小，但并不像平行走线那样糟糕。
地平面上走线的对地电容：
-
地平面上的走线对地有显著的电容，对于1毫米宽的走线大约是每厘米0.7皮法。这可能会给高阻抗信号带来麻烦，即使是相对较短的走线。
-
随着板层数的增加，这种电容会变得更糟，尤其是当习惯于将地/电源平面放置在板的中间层时。
驱动阻抗对电容耦合的影响：
-
驱动阻抗对于电容耦合非常重要。当受影响的走线通过 100Ω 电阻驱动而不是开路时，耦合信号降低到原始电压的约1/4。
对于电感耦合，我也使用了 50 MHz 正弦波，但将导线的另一端接地。我还添加了一个 10 欧姆的电流检测电阻（10mV = 1mA）来测量电流。
同样，这些测量值的精确度仅为 5%左右，因此无需在意单毫伏的差异。
| 配置 | 旁路电压峰峰值 | 耦合电压峰峰值 |
| 无地平面，15cm示波器地线夹提供地 | 8 mV | 62 mV |
| 标准地平面 | 12 mV | 26 mV |
| 走线之间有分割的地平面 | 11 mV | 28 mV |
| 走线跨过分割的地平面 | 10 mV | 29 mV |
| 标准地平面，但由导线切割穿过地平面；且待测的信号线跨过切割的导线 | 8 mV | 44 mV |
| 标准地平面，但由导线切割穿过地平面；且待测的信号线平行靠近切割的导线 | 9 mV | 28 mV |
| 双面的地平面 | 11 mV | 28 mV |
| 双面的地平面+缝合孔 | 9 mV | 22 mV |
| 双面的地平面+屏蔽线 | 10 mV | 33 mV |
| 双面的地平面+屏蔽线+缝合孔 | 10 mV | 7 mV |
这里的结果与电容耦合的结果类似，并不与电容耦合的结论相悖。虽然与电容耦合相比，电感耦合看起来微不足道，但它会对驱动阻抗很低（如测试中使用的 0 欧姆短路）的线路产生影响，而且这里使用的电流仅为毫安，而不是驱动 MOSFET 栅极等常用的几安培电流。
耦合到底重要吗？